日立金屬專利(日立金屬專利有效期)
本篇文章給大家談談日立金屬專利,以及日立金屬專利有效期對應的知識點,希望對各位有所幫助。
做磁鐵有專利的廠家有哪些?
日立金屬在磁鐵行業擁有600多項專利,雖然有些專利已經過期,但還是很難避開他的專利。

最近因為這個問題跟供應商溝通很多,據供應商說所有帶H的型號都避不開專利問題,必須交專利費。如果在國內做,沒人管。如果賣國外,那就要小心了,外國公司特別在意專利問題。
到底是不是只有帶H的型號有專利問題,不帶H的就沒有,這個我還是不太確定,國內這些山寨廠商,有些時候會亂說。
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超微晶合金高頻磁特性檢測中的波形調理
超微晶合金高頻磁特性檢測中的波形調理
方案,在此基礎上完成了高頻下超微晶合金磁滯回線的動態測量并對其損耗特性進行了分析。
1 超微晶高頻磁特性測量過程中非對稱波形畸變的產生原因
根據IEC-60404-10的建議,本文采用環形樣件搭建了超微晶高頻磁特性實驗系統。最初的實驗原理圖如圖1所示。功放的信號源由NI公司的多功能數據采集卡提供。初級電流與次級感應電壓分別由示波器電流探頭與電壓探頭獲得。由于當磁場較小時,兩個信號都非常弱,信號先由前置電壓放大器SR560進行放大,然后由示波器進行采集。示波器采樣率高達1 GHz,保證了高頻情況下也能得到
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足夠多的采樣點。樣件中的磁通密度B與磁場強度H可以由下式獲得:
B=-■■u2dt(1)
H=■(2)
式中:N1、N2——初級與次級繞組的匝數;
S、lm——磁芯的截面積與磁路有效長度;
I1——勵磁電流;
u2——次級感應電壓。
如圖2所示,在測試的過程中,在激磁電壓保證正弦的條件下,超微晶合金的勵磁電流出現了非對稱分量,并且隨著電壓升高,次級電壓波形也出現了不同程度的畸變。這一非對稱分量反映到磁場量上就會形成一個非對
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稱的磁滯回線,從而對損耗的計算產生一定的誤差。
然而,這一非對稱的磁場分量并不是一成不變的,它隨著磁通密度的大小而改變。在勵磁電壓保證正弦對稱的條件下仍出現一個很小的直流磁場偏置。產生這種現象的原因十分復雜,歸納起來主要有3點:1)超微晶合金具有超高的磁導率,任何空間中微弱的偏置磁場都會對實驗產生影響。2)雖然電壓對稱,但是超微晶磁化在測試過程中初級繞組浮地,信號源的地與超微晶測試系統的地有電壓差,從而產生非對稱電流,最終引起直流偏磁。3)超微晶合金本身對退火十分敏感,不同的退火條件對材料磁性能影響很大。在退火過程中,材料可能存在非對稱的應力,從而導致正向磁化與負向磁化的磁導
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率不同,最終反映在激磁電感的非對稱性上。
由于這種波形的非對稱畸變影響因素較多,即使在實驗電路中添加隔離變壓器,也不能很好地濾除直流磁場的影響。
2 對超微晶合金高頻實驗系統的改進
2.1 硬件測試系統的改進
考慮到波形的非對稱畸變實際上是一個直流偏磁,要消除這一現象需人為產生一個直流磁場來補償掉材料本身不對稱而產生的直流偏置。改進后的實驗系統如圖3所示。
為了更好地實現波形的控制,NI PXI控制器被應用到測控系統中,通過對采集來的信號在LabVIEW中進行處理,實現了全自動的測
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量。在整個系統中,額外添加了一套直流繞組,通過觀察實際測試過程中波形的偏移量,調節直流電流的輸出,產生一個相反的磁場,從而達到直流偏磁補償的目的。圖中L為阻尼電抗,對直流側的電流分量起到抑制作用。在測試過程中,電流探頭與電壓探頭需要加裝前置放大以滿足采集系統的輸入范圍。為了保證磁通密度B一直為正弦變化,基于時域的波形迭代算法被應用在整個測控系統中。
3 結束語
本文對超微晶高頻磁特性測量過程中所產生的一些實驗問題作了一些探討。首先,分析了在
測試過程中產生波形非對稱畸變的原因;其
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次,在此基礎上對整體實驗系統的軟硬件進行了重新設計,提出了第3繞組補償以及一種基于時域反饋迭代算法,很好的補償了波形;最后,測量了日立金屬所提供的FT-3M磁芯的磁滯回線與損耗曲線,驗證了方法的可行性。參考文獻
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(編輯:劉楊)
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超微晶磁環降低紋波的原因
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